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產(chǎn)品展示

歐規(guī)雙晶直探頭

特性

獨(dú)立的聲波發(fā)射和接收單元

縱波垂直傳輸

小焦距探頭具有非常好的近場(chǎng)分辨率

使用耐磨的塑料延遲塊,即使在粗糙或彎曲的表面也能很好耦合性

延遲塊由一個(gè)金屬環(huán)保護(hù)以防磨損

在焦點(diǎn)內(nèi)特別適合剩余壁厚的測(cè)量

加上特殊的延遲塊(定制產(chǎn)品)能夠在高溫表面測(cè)量

應(yīng)用

  • 近表面的小缺陷探測(cè)和評(píng)估

  • 焦點(diǎn)內(nèi)大缺陷以及平行于表面分布的缺陷檢測(cè)

  • 腐蝕、銹蝕剩余壁厚的測(cè)量(包括高溫情況下測(cè)量)

  • 粘結(jié)檢測(cè)

    螺釘,螺栓,銷釘

    覆層和堆焊層

    軸,桿,方坯芯檢測(cè)

    粗晶材料

    火車車輪

SEB..
用于探測(cè)棒材、坯塊、軸、桿等中心缺陷,經(jīng)常用作在中等和大尺寸物體(如鍛造或鑄造的物體)中關(guān)鍵部位小缺陷的探測(cè)(如氣孔、微孔和熱裂縫)。更適用于平行物體表面的缺陷定位(如層狀結(jié)構(gòu)缺陷、渣孔以及厚鋼板中的分隔線)。

SEB1銅棒中心缺陷

MSEB..
常用于所有類型小零件(如螺桿、螺釘、螺母、銷釘、軸承環(huán)、軸承和裝配材料)的檢測(cè),也可用于壁厚和剩余壁厚的測(cè)量(如被腐蝕和侵蝕的管子、容器和機(jī)械零件)。

MSEB5彎曲處剩余壁厚的測(cè)量

MSEB4金屬融渣裂縫

SEB..KF

體積小巧的小直徑特殊探頭,用于近表面小缺陷的探測(cè)。小巧的形狀使這種類型的探頭可以用于一些特殊位置或者不易接近位置的檢測(cè)。

SEB10KF3插口焊接點(diǎn)

選型

類型15/類型16

類型15

類型16

類型17/類型18

類型17

類型18

A: 30mm

A: 20mm

A: 14mm

A: 14mm

B: 65mm

B: 45mm

B: 17mm

B: 17mm

C: 28.5mm

C: 16.5mm

C: 13mm

C: 7.5mm

D: 10mm

D: 5mm

D: 6.4mm

D: 6.4mm


系列

型號(hào)

頻率

(MHz)

焦距

(mm)

單晶片尺寸

(mm)

外觀尺寸

帶寬

接口類型

接口方向

SEB

SEB 1

1

20

Φ21半圓

類型15

40

雙聯(lián)

Lemo 00

側(cè)裝

SEB 1-EN

1

20

SEB 2

2

15

7x18

SEB 2-EN

2

15

SEB 2-0°

2

30

SEB 2-EN-0°

2

30

SEB 4

4

12

6x20

SEB 4-EN

4

12

SEB 4-0°

4

25

SEB 4-EN-0°

4

25

MSEB

MSEB 2

2

8

Φ11半圓

類型16

40

MSEB 2-EN

2

8

MSEB 4

4

10

3.5x10

MSEB 4-EN

4

10

MSEB 4-EN-0°

4

18

MSEB 4-0°

4

18

MSEB 5

5

10

Φ9半圓

SEB KF

SEB 2 KF 5

2

6

Φ8半圓

類型17

30-60

Microdot

X2

SEB 4 KF 8

4

6

SEB 4 KF 8-EN

4

6

SEB 5 KF 3

5

3

SEB 10 KF 3

10

3

Φ5半圓

類型18

SEB 10 KF 3-EN

10

3

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