應用
用于檢測簡單形狀的工件中平行于表面的缺陷
鍛件、鑄件
金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料
板材、棒材、方形材
容器、機器零件、殼體
特點
縱波單晶探頭
適合DGS缺陷評判
性能參數(shù)誤差小，適合高精度檢測
可更換保護膜，保護探頭不被磨損
柔性保護膜，即使是在粗糙或輕微彎曲的表面上也能很好地耦合
合金壓鑄殼體，堅固耐用
用于高溫檢測時可加裝高溫延遲塊（定制產品）
B..S系列
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A=30mm |
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B=59mm |
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C=45mm |
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D=29mm |
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系列 |
型號 |
頻率 (MHZ) |
接口方向 |
帶寬 |
晶片直徑 |
接口類型 |
保護膜 |
|
BS |
B1S-EN |
1 |
側裝 |
25 |
24mm |
Lemo 01 |
ES45 |
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B1S |
1 |
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|
B2S |
2 |
||||||
|
B2.25SE |
2.25 |
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|
B4S |
4 |
||||||
|
B5S |
5 |
||||||
|
B1S-O |
1 |
頂裝 |
|||||
|
B2S-O |
2 |
||||||
|
B4S-O |
4 |
||||||
|
B5S-O |
5 |
MB..S系列
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A=20mm |
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B=43mm |
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C=25mm |
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D=15mm |
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系列 |
型號 |
頻率(MHZ) |
接口方向 |
帶寬 |
晶片直徑 |
接口類型 |
保護膜 |
|
MBS |
MB1S |
1 |
側裝 |
25 |
10mm |
Lemo 00 |
ES24 |
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MB2S |
2 |
||||||
|
MB2S-EN |
2 |
||||||
|
MB4S |
4 |
||||||
|
MB4S-EN |
4 |
||||||
|
MB5S |
5 |
||||||
|
MB6S |
6 |
||||||
|
MB2S-O |
2 |
頂裝 |
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MB4S-O |
4 |
||||||
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MB5S-O |
5 |
